光侦测器为一小型的侦测器、用以控制雾化与蒸发过程的温度，可确保低分散性以提供可信赖的液相层析（HPLC）/挥发型光散射（ELS）分析结果，使你在每次的分析时能得到更多的峰信号及具可靠再现性的LC及LC/MS分析结果。
光侦测器的功能和应用：
1. 材料表面形貌测试
AFM在水平方向具有0.1-0.2nm的高分辨率，在垂直方向的分辨率约为0.01nm。AFM对表面整体图像进行分析可得到样品表面的粗糙度、颗粒度、平均梯度、孔结构和孔径分布等参数，还可以对测试的结果进行三维模拟，得到更加直观的3D图像。
2.相位移模式原子力显微镜
作为轻敲模式的一项重要的扩展技术，相位移模式通过检测驱动微悬臂探针振动的信号源的相位角与微悬臂探针实际振动的相位角之差（即两者的相移）的变化来成像。引起该相移的因素很多，如样品的组分、硬度、粘弹性质等。因此利用相位移模式，可以在纳米尺度上获得样品表面局域性质的丰富信息。相位移模式已成为原子力显微镜/AFM的一种重要检测技术。
3.力曲线测试
AFM除了形貌测量之外，还能测量力对探针-样品间距离的关系曲线Zt（Zs）。它几乎包含了所有关于样品和针尖间相互作用的必要信息。这个技术可以用来测量探针尖和样品表面间的排斥力或长程吸引力，揭示定域的化学和机械性质，像粘附力和弹力，甚至吸附分子层的厚度。如果将探针用特定分子或基团修饰，利用力曲线分析技术就能够给出特异结合分子间的力或键的强度，其中也包括特定分子间的胶体力以及疏水力、长程引力等。
