光焱科技REPS+與G2 Voc损耗分析仪是一个完整的系统，可以帮助科学家测量、计算和分析工作中的太阳能电池中的 Voc-loss，并为下一步的工艺改进提供思路。

LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe测试系统适用测试PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致发光量子产率)。 PLQY 是评价发光材料的重要指标，除了可以用来对材料进行初级分类的基本参数，且对于发光系统与其载子动力学的重要分析方法。

在半导体器件中，不完好的结晶度往往会导致禁带隙中的缺陷或陷阱态，这极大地影响了器件的整体光学和电学性能。由于带隙中的吸收系数极低，产生的光电流信号也极弱。因此，需要高度灵敏的检测系统。 Enlitech 的 FTPS 是一种高灵敏度的光电流和外量子效率 (HS-EQE) 光谱系统。它利用傅里叶变换信号处理技术来增强和突破光电流信号检测极限。 EQE 水平可以低至10-5%（7 个量级）*。

光焱科技QE-R量子效率测试系统采用了高效的椭圆反射器，比传统的球形透镜和反射器具有更高的集光效率。且于60cm x 60cm x 60.7cm 的主体内集成了所有光学和机械部件，节省了大量实验室空间，但仍保持了各种类型的太阳能电池测试夹具的灵活性。并且也提供简单而完整的手套箱集成方案。

APD-QE 采用了光束空间强度技术，利用 ASTM 标准制定的「Irradiance Mode」测试方式，与各种先进探尖台形成完整的微米级光感测器全光谱效率测试解决方案。APD-QE 已被应用于多种先进光感测器的测试中，例如在iPhone 曝光及其多种光感测器、Apple Watch 血氧光感测器、TFT 影像感测器、源动态图元感测器（APS）、高灵敏度间切换 X 射线感测器等。

激光扫描缺陷成像仪是激光束感应电流（LBIC）测试的升级版本。它利用波长能量大于半导体带隙的激光束照射半导体，产生电子空穴对。通过快速扫描样品表面，获得揭示内部电流变化的图像分布，从而分析各种缺陷分布。这有助于分析样品制备的质量并有助于工艺改进。