当前位置:首页 > 产品中心 > 传感器测试 > SPAD传感器/ALS传感器 > SPD2200新型单光子侦测器特性分析设备
产品分类
Product Category详细介绍
品牌 | Enlitech | 价格区间 | 面议 |
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应用领域 | 电子,汽车 | 暗計數(Dark?Count?Rate) | DCR |
产地类别 | 进口 | 测量模式 | 咨询光焱科技专家 |
SPD2200具备全光谱性能测试包含:
*全光谱光谱响应(SR, Spectral Responsivity)
*全光谱量子效率(EQE, External Quantum Efficiency)
*全光谱光子探测率(PDP, Photon Detection Probability)
*暗计数DCR (Dark Count Rate)
*崩溃电压BDV (Break-Down Voltage)
SPD2200亦能够测试SPD的单光子辨析特性分析,包含:
*Jitter
*Afterpulsing probability
*Diffusion tail
*SNR
SPD2200整合了所有*进光学与电学系统,搭配光焱科技多年光传感器测试与分析的经验,提供完整与便利的软件控制接口与分析功能。SPD2200可帮助您节省系统搭设的时间成本,并降低测试结果的不确定性。加快产品的开发周期,提升产品的竞争力。
*SPAD的暗计数与偏压关系图
*SPAD暗计数与崩溃电压
*在不同电压下SPAD光子探测效率的PDE光谱
*SPAD的Jitter测量
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